Сортировщик CIS FT — это высокоточное автоматизированное сортировочное оборудование для сферы пост-сборки и тестирования полупроводников, специально разработанное для этапа финального тестирования CIS-микросхем. Оборудование интегрирует CIS-визионное позиционирование и высокоскоростные прецизионные системы управления движением, обеспечивая полную автоматизацию процессов загрузки микросхем, точного позиционирования, электрического и функционального тестирования, тестирования изображения, сортировки по классам и автоматической упаковки. Устройство совместимо с основными типами корпусов, такими как CSP и BGA. Благодаря высокоскоростному визионному контролю CIS точность позиционирования достигает ±0,01 мм, что эффективно гарантирует стабильность тестирования и сортировки. Обеспечивается возможность взаимодействия с основными тестерами для выполнения множества электрических измерений, включая функциональность, напряжение пробоя и токи утечки. Поддерживается многоканальная интеллектуальная сортировка для удовлетворения требований классификации микросхем по различным уровням качества. Присутствуют функции отслеживания данных, сигнализации о нештатных ситуациях и быстрой перенастройки на другой тип изделий. Оборудование подходит для сценариев тестирования микросхем в потребительской электронике, промышленной автоматизации и автомобильной электронике, значительно повышая эффективность производственных линий и процент выхода годных изделий, являясь ключевым высокотехнологичным оборудованием для линий сборки и тестирования полупроводников.
| Модель | H08082T |
| Характеристики | |
| Габариты станка (мм) | 2230*1720*2200 |
| Вес оборудования | 3200 кг |
| Электропитание | 380 В × 2, 220 В × 1 |
| Мощность | макс. 25 кВт |
| Подача воздуха | 0,5–0,6 МПа, > 550 л/мин |
| Тип лотка | JEDEC |
| Количество сортировочных станций | Загрузчик × 1, Пустой × 1, Буфер × 1, Авто × 3, Фикс. × 3 |
| Интерфейс | GPIB,TTL,RS232,TCP/IP |
| Конфигурация тестирования | 1 сайт, 2 сайта (1×2), 4 сайта (2×2 / 1×4) |
| Контроль ЭСД | ±1000 В → ±50 В < 3 с, сопротивление заземления движущихся частей < 1 Ом |
| Гибкость | |
| Размер компонентов | 2×2 – 110×110 мм |
| Типы корпусов | QFP,QPN,PLCC,LGA,TSOP,CSP,PGA... |
| Время индексации | мин. 1 с |
| UPH | макс. 9300 |
| Частота замятий | 1/5000 |
| Конфигурация захватов | 2*4 |
| Стандартное усилие контакта | 240 кг |
| Температурный диапазон | -55℃~155℃±3℃ |
Цзыи Leascan — это профессиональное оборудование для оптического контроля внешних дефектов, предназначенное для CIS-микросхем и оптических датчиков (TOF, LiDAR и т.д.), обеспечивающее высокоточное и высоконадёжное решение для контроля внешнего вида на этапе пост-сборки и тестирования полупроводников.
Сортировщик CIS FT — это высокоточное автоматизированное сортировочное оборудование для сферы пост-сборки и тестирования полупроводников, специально разработанное для этапа финального тестирования CIS-микросхем.
Испытательный стенд включает в себя испытательную стойку, испытательную оснастку, высоковольтное измерительное оборудование, систему управления и т.д.
Испытательный стенд включает в себя систему электропитания, приводную систему, систему сбора данных, систему управления, систему климатических воздействий и т.д.
Сортировщик CIS FT — это высокоточное автоматизированное сортировочное оборудование для сферы пост-сборки и тестирования полупроводников, специально разработанное для этапа финального тестирования CIS-микросхем.
Габаритные размеры испытательного стенда: 1,5 м x 1,4 м x 2 м. Фактические размеры уточняются по месту установки. Необходимо предусмотреть пространство для прохода персонала, перемещения материалов, технического обслуживания и т.д.
Цзыи Leascan — это профессиональное оборудование для оптического контроля внешних дефектов, предназначенное для CIS-микросхем и оптических датчиков (TOF, LiDAR и т.д.), обеспечивающее высокоточное и высоконадёжное решение для контроля внешнего вида на этапе пост-сборки и тестирования полупроводников.
Данная линия представляет собой интеллектуальное решение для сборки и испытаний узлов DP-EPS. Линия включает 16 модульных рабочих позиций, охватывающих полный цикл производства от установки корпуса, нанесения смазки до финального контроля и упаковки. Линия спроектирована по принципу независимого управления каждой позицией в сочетании с синхронизацией всей линии.
Сортировщик CIS FT — это высокоточное автоматизированное сортировочное оборудование для сферы пост-сборки и тестирования полупроводников, специально разработанное для этапа финального тестирования CIS-микросхем.
Испытательный стенд включает в себя испытательную стойку, испытательную оснастку, систему электропитания, систему нагрузки, систему сбора данных, систему управления и т.д.
Сортировщик с горизонтальным перемещением серии H08 для режимов комнатной/высокой температуры и трехтемпературного режима является ключевым оборудованием для финального тестирования (FT) полупроводников.
Данная производственная линия представляет собой полностью автоматизированное решение для сборки статора EPS-электродвигателя, обеспечивающее безлюдное и интеллектуальное производство на всех этапах от подачи сердечника до контроля готового изделия.
Цзыи Leascan — это профессиональное оборудование для оптического контроля внешних дефектов, предназначенное для CIS-микросхем и оптических датчиков (TOF, LiDAR и т.д.), обеспечивающее высокоточное и высоконадёжное решение для контроля внешнего вида на этапе пост-сборки и тестирования полупроводников.
Цзыи Leascan — это профессиональное оборудование для оптического контроля внешних дефектов, предназначенное для CIS-микросхем и оптических датчиков (TOF, LiDAR и т.д.), обеспечивающее высокоточное и высоконадёжное решение для контроля внешнего вида на этапе пост-сборки и тестирования полупроводников.
Сортировщик CIS FT — это высокоточное автоматизированное сортировочное оборудование для сферы пост-сборки и тестирования полупроводников, специально разработанное для этапа финального тестирования CIS-микросхем.
Сортировщик с горизонтальным перемещением серии H08 для режимов комнатной/высокой температуры и трехтемпературного режима является ключевым оборудованием для финального тестирования (FT) полупроводников.
