Сортировщик с горизонтальным перемещением серии H08 для режимов комнатной/высокой температуры и трехтемпературного режима является ключевым оборудованием для финального тестирования (FT) полупроводников. Охватывает полный температурный диапазон: тестирование при комнатной/высокой температуре и трехтемпературное тестирование от -55°C до +155°C. Модели для комнатной/высокой температуры подходят для массового тестирования потребительской электроники и промышленных микросхем. Трехтемпературные модели (главным образом предназначены для строгой верификации микросхем автомобильного класса) обеспечивают точность контроля температуры ±0,5°C и соответствуют стандарту AEC-Q100. Оборудование поддерживает параллельное тестирование на нескольких позициях (до 32 сайтов), UPH достигает 13 500 микросхем в час, коэффициент Jam Rate ниже 1/10 000. Совместимо с основными типами корпусов, такими как QFN, BGA, TSOP. Обладает функциями прецизионного управления движением, быстрой перенастройки на другой тип изделий, отслеживания данных и сигнализации о нештатных ситуациях. Подходит для производственных линий OSAT-компаний и IDM-предприятий. Широко используется для тестирования микросхем в автомобильной электронике, AI, 5G и других областях, являясь эталоном высококачественного отечественного сортировочного оборудования для тестирования.
| Модель | H08162T |
| Характеристики | |
| Габариты станка (мм) | 2230*1720*2200 |
| Вес оборудования | 3200 кг |
| Электропитание | 380 В × 2, 220 В × 1 |
| Мощность | макс. 25 кВт |
| Подача воздуха | 0,5–0,6 МПа, > 550 л/мин |
| Тип лотка | JEDEC |
| Количество сортировочных станций | Загрузчик × 1, Пустой × 1, Буфер × 1, Авто × 3, Фикс. × 3 |
| Интерфейс | GPIB,TTL,RS232,TCP/IP |
| Конфигурация тестирования | 1 сайт, 2 сайта (1×2), 4 сайта (2×2 / 1×4), 6 сайтов (2×3) |
| Контроль ЭСД | ±1000 В → ±50 В < 3 с, сопротивление заземления движущихся частей < 1 Ом |
| Гибкость | |
| Размер компонентов | 2×2 – 110×110 мм |
| Типы корпусов | QFP,QPN,PLCC,LGA,TSOP,CSP,PGA... |
| Время индексации | мин. 1 с |
| UPH | макс. 14000 |
| Частота замятий | 1/5000 |
| Конфигурация захватов | 2*4 |
| Стандартное усилие контакта | 240 кг |
| Температурный диапазон | -55℃~155℃±3℃ |
Сортировщик CIS FT — это высокоточное автоматизированное сортировочное оборудование для сферы пост-сборки и тестирования полупроводников, специально разработанное для этапа финального тестирования CIS-микросхем.
Испытательный стенд включает в себя систему электропитания, приводную систему, систему сбора данных, систему управления и т.д. Поддерживает испытания характеристик электродвигателей рулевого управления и тормозных систем, а также PPK.
Данная линия предназначена для сборки и испытаний EPP. Линия выполнена в автоматическом исполнении с кольцевой транспортной системой замкнутого типа.
Сортировщик с горизонтальным перемещением серии H08 для режимов комнатной/высокой температуры и трехтемпературного режима является ключевым оборудованием для финального тестирования (FT) полупроводников.
Сортировщик с горизонтальным перемещением серии H08 для режимов комнатной/высокой температуры и трехтемпературного режима является ключевым оборудованием для финального тестирования (FT) полупроводников.
Данная полностью автоматизированная линия окончательной сборки EPS-электродвигателей представляет собой интеллектуальное производственное решение, разработанное специально для автомобильных электрических усилителей рулевого управления.
Испытательный стенд включает в себя испытательную стойку, испытательную оснастку, систему электропитания, систему нагрузки, систему сбора данных, систему управления и т.д.
Испытательный стенд включает в себя испытательную стойку, испытательную оснастку, приводную систему, систему сбора данных, систему управления и т.д.
Цзыи Leascan — это профессиональное оборудование для оптического контроля внешних дефектов, предназначенное для CIS-микросхем и оптических датчиков (TOF, LiDAR и т.д.), обеспечивающее высокоточное и высоконадёжное решение для контроля внешнего вида на этапе пост-сборки и тестирования полупроводников.
Цзыи Leascan — это профессиональное оборудование для оптического контроля внешних дефектов, предназначенное для CIS-микросхем и оптических датчиков (TOF, LiDAR и т.д.), обеспечивающее высокоточное и высоконадёжное решение для контроля внешнего вида на этапе пост-сборки и тестирования полупроводников.
Данный испытательный стенд характеристик DP-EPS разработан специально для двухшестерённого электрического усилителя рулевого управления. Стенд объединяет такие основные компоненты, как осевая нагрузочная система для электродвигателя, электрическая система измерения и управления, защитная рама, формируя среду для испытаний, моделирующую все рабочие режимы.
Данная линия представляет собой интеллектуальное решение для сборки и испытаний узлов DP-EPS. Линия включает 16 модульных рабочих позиций, охватывающих полный цикл производства от установки корпуса, нанесения смазки до финального контроля и упаковки. Линия спроектирована по принципу независимого управления каждой позицией в сочетании с синхронизацией всей линии.
Цзыи Leascan — это профессиональное оборудование для оптического контроля внешних дефектов, предназначенное для CIS-микросхем и оптических датчиков (TOF, LiDAR и т.д.), обеспечивающее высокоточное и высоконадёжное решение для контроля внешнего вида на этапе пост-сборки и тестирования полупроводников.
Сортировщик с горизонтальным перемещением серии H08 для режимов комнатной/высокой температуры и трехтемпературного режима является ключевым оборудованием для финального тестирования (FT) полупроводников.
Испытательный стенд включает в себя испытательную стойку, испытательную оснастку, систему питания и привода, систему сбора данных, систему управления и т.д.
Испытательный стенд включает в себя испытательную стойку, испытательную оснастку, систему питания и привода, систему нагрузки, систему сбора данных, систему управления и т.д.
